Tem&Hrem

分析和高分辨率透射电子显微镜和EDS分析
MFA,KFKI校园,建筑物26。
联系人:LajosTóth,tothl @ mfa.kfki.hu

飞利浦CM20 tem:

摩擦计

分析侧侧入门仪,以200 kV工作
(1990年安装)
•0.27 nm点到点分辨率
•可用的成像和衍射技术的多功能范围(SAED,Microdiffraction,CBED)
•纳米探针X射线微分析(EDS),带有Noran Voyager分析仪(Z = 5 - 92)
•在供暖/冷却架中进行特殊的原位调查
•图像和衍射模式的在线测量
•用户友好的计算机控制,可轻松更改操作模式。
•图像加强CCD相机和监视系统以快速对齐


Philips CM20显微镜可用的标本持有者:
•单倾斜支架(飞利浦),X倾斜范围:±45°
•旋转支架(飞利浦),X-tilt:±45°,旋转:360°
•由低背景制成的双倾斜分析持有人(GATAN),X-倾斜为±45°,y倾斜为±30°
•双倾斜,分析,冷却支架(GATAN)与上述相同,但也可以与液氮冷却一起使用以减少样品污染
•供暖支架(飞利浦),温度(最高1000°C)

JEOL JEM-3010 HREM:

摩擦计

原子分辨率tem,侧入口的GONIMOMETER在300 kV处工作
(安装在2001年)
•UHR杆块,高稳定性电子设备和无振动底座实现的0.17 nm点对点分辨率
•侧输入goniomer允许标本倾斜长达20度(x,y)
•单倾斜和双倾斜样品支架(JEOL)以及LN2冷却双倾斜支架(Gatan)
•使用后柱成像过滤器(Gatan GIF Tridiem,2005年10月安装)的EELS分析和能量过滤成像
•图像记录的选项:摄影胶片,成像板或慢速CCD摄像头(GIF系统的一部分)